赛默飞ELEMENT XR™ ICP-MS 质谱仪

Thermo ScientificTMELEMENT XR高分辨电感耦合等离子体质谱仪可以同时分析周期表中的几乎所有元素，浓度范围从mg/L到pg/L ；兼容无机和有机溶液的基体和固体样品。利用高分辨率直接分析有干扰的同位素；的确信不含干扰的元素图谱；瞬时信号的多元素检出器；并能与多种进样和分离技术联用，例如激光进样。目前，已经安装使用的ELEMENT XR已超过600台，服务于环境监测、核科学、地球科学、材料科学等各个领域。

ELEMENT XR主要特点：

· 线性范围宽：线性范围达12个数量级，不同模式自动切换校正；

· 灵敏度高：可使用赛默飞新的Jet接口技术，提供无与伦比的灵敏度；

· 具有固定宽度的低、中、高分辨率狭缝，采用高分辨率可直接分析有质谱干扰的同位素。

目前市场上电感耦合等离子体质谱仪( ICP - MS)绝大多数为四极杆型的ICPMS，波谱干扰是其的主要局限。作为等离子体气的氩气、水、酸和样品基体本身结合在一起会产生各种各样宽范围的多原子聚离子，这种干扰聚离子可能拥有和目标元素相同的质量数，导致在表面上目标元素的浓度不合实际地高。有好几种方式被用于减少或回避这种波谱干扰的形成。包括运用数学校正、特殊的样品导入系统、特殊的等离子体参数和碰撞/动态反应池来压制部分的干扰，但是如果样品的基体比较复杂时，这种干扰就很难被。因此高分辨等离子质谱仪(HR-ICP -MS)应运而生，具有高分辨率的双聚焦磁质谱仪的之处在于简单地利用干扰和目标元素的质量数之间的微弱差别，无需知道干扰是什么，来自何方？高10000高分辨分析能力，能有效由等离子体、水以及基体元素所产生的多种干扰。